日本 得乐 TECLOCK IM-882 内部刻度盘卡尺
日本 得乐 TECLOCK IM-882 内部刻度盘卡尺长处通过根据测量尺寸更换随附的替换测量元件，可以在 ±1 mm（指令范围 2 mm）的设定尺寸内进行比较测量。更换测量装置的改进使其便于测量 O 形圈的槽径。可以测量模具原型的内径。用用于比较测量圆柱形物体的内径和背面凹槽的直径。产品规格规格和标准指令误差： ±20μm更换测量元件数量 （mm）： 6指令范围： 2mm测量范围 （mm）： 5
日本 得乐 TECLOCK IM-882 内部刻度盘卡尺
长处
通过根据测量尺寸更换随附的替换测量元件，可以在 ±1 mm（指令范围 2 mm）的设定尺寸内进行比较测量。
更换测量装置的改进使其便于测量 O 形圈的槽径。
可以测量模具原型的内径。
用于比较测量圆柱形物体的内径和背面凹槽的直径。 指令误差： ±20μm - 240 克用
产品规格
规格和标准
更换测量元件数量 （mm）： 6
指令范围： 2mm
测量范围 （mm）： 55~153
最小显示 （mm）： 0.01
测量深度 （mm）： 90
最大公差 （mm）： ±0.02材料 质量和质量单位