日本 OptoSigma 西格玛 SGRM-200N 反射测量仪
日本 OptoSigma 西格玛 SGRM-200N 反射测量仪特殊的半镜可有效地将样品中的反射光捕获到光谱仪中，即使在低反射率下也能进行短期测量。特殊的半镜可防止背面反射，因此无需处理样品背面即可进行准确测量。（薄板的反射率测量 t = 0.3 mm：×使用 20 倍物镜）特殊的卤素灯和独特的光学设计可最大限度地提高光量，以确保快速和可重复的测量。由于它测量样品表面的微小面积 （φ50 μm），
日本 OptoSigma 西格玛 SGRM-200N 反射测量仪
特殊的半镜可有效地将样品中的反射光捕获到光谱仪中，即使在低反射率下也能进行短期测量。
特殊的半镜可防止背面反射，因此无需处理样品背面即可进行准确测量。
（薄板的反射率测量 t = 0.3 mm：×使用 20 倍物镜）
（薄板的反射率测量 t = 0.3 mm：×使用 20 倍物镜）
特殊的卤素灯和独特的光学设计可最大限度地提高光量，以确保快速和可重复的测量。
由于它测量样品表面的微小面积 （φ50 μm），因此可以测量透镜的曲面和涂层的不均匀性。
它具有紧凑的设计，可节省空间且可测量。
可以将数据保存为 Microsoft® Excel® 格式。
由于可以在同一屏幕上显示（覆盖）多个测量结果，因此很容易比较测量结果。
通过增加峰值监测功能，提高了重复反射率测量的准确性。