日本 得乐 TECLOCK GM-1 内部刻度盘卡尺
日本 得乐 TECLOCK GM-1 内部刻度盘卡尺长处这是用于狭窄测量点的壁厚测量类型。用用于外部测量被认为难以测量的厚度大型测量物体和变形产品。产品规格规格和标准刻度 （mm）：0.1测量范围 （mm）：0~50最小显示 （mm）：0.1测量深度 （mm）：125最大测量深度 （mm）：125材料-质量和质量单位480 克
日本 得乐 TECLOCK GM-1 内部刻度盘卡尺
长处
这是用于狭窄测量点的壁厚测量类型。
用于外部测量被认为难以测量的厚度大型测量物体和变形产品。 刻度 （mm）：0.1 - 480 克用
产品规格
规格和标准
测量范围 （mm）：0~50
最小显示 （mm）：0.1
测量深度 （mm）：125
最大测量深度 （mm）：125材料 质量和质量单位