日本 得乐 TECLOCK GM-20 外部刻度卡尺
日本 得乐 TECLOCK GM-20 外部刻度卡尺长处可以在很深的地方测量工件的厚度（最大测量深度为 125 毫米）。用用于外部测量被认为难以测量的厚度大型测量物体和变形产品。产品规格规格和标准刻度 （mm）：0.1测量范围 （mm）：0~80最小显示 （mm）：0.1测量深度 （mm）：125最大测量深度 （mm）：125材料-质量和质量单位500 克
日本 得乐 TECLOCK GM-20 外部刻度卡尺
长处
可以在很深的地方测量工件的厚度（最大测量深度为 125 毫米）。
用于外部测量被认为难以测量的厚度大型测量物体和变形产品。 刻度 （mm）：0.1 - 500 克用
产品规格
规格和标准
测量范围 （mm）：0~80
最小显示 （mm）：0.1
测量深度 （mm）：125
最大测量深度 （mm）：125材料 质量和质量单位