TECLOCK 得乐

日本 得乐 TECLOCK GM-20 外部刻度卡尺

日本 得乐 TECLOCK GM-20 外部刻度卡尺长处可以在很深的地方测量工件的厚度(最大测量深度为 125 毫米)。用用于外部测量被认为难以测量的厚度大型测量物体和变形产品。产品规格规格和标准刻度 (mm):0.1测量范围 (mm):0~80最小显示 (mm):0.1测量深度 (mm):125最大测量深度 (mm):125材料-质量和质量单位500 克

日本 得乐 TECLOCK GM-20 外部刻度卡尺


长处

  • 可以在很深的地方测量工件的厚度(最大测量深度为 125 毫米)。

  • 用于外部测量被认为难以测量的厚度大型测量物体和变形产品。

产品规格

规格和标准

刻度 (mm):0.1
测量范围 (mm):0~80
最小显示 (mm):0.1
测量深度 (mm):125
最大测量深度 (mm):125

材料

-

质量和质量单位

500 克


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