KETT 凯特

日本 KETT 凯特 RN-700 外观分析仪器

日本 KETT 凯特 RN-700 外观分析仪器产品概述只需将糙米铺在托盘上并插入即可确定外观约40秒高速判断1000粒通过 3 个成像和新开发的图像引擎准确除了谷物质量外,还测量谷物的数量、每粒的长度、宽度和面积。主要技术参数测量方法图像处理方法像素传感器CMOS图像传感器(500万像素)光源反射图像:RGB 3色LED透射图像:10.4英寸彩色LCD测量对象漆内糙米、漆内精米*1(不包括低直链

日本 KETT 凯特 RN-700 外观分析仪器

产品概述

穀粒判定器 RN-700
  • 只需将糙米铺在托盘上并插入即可确定外观

  • 约40秒高速判断1000粒

  • 通过 3 个成像和新开发的图像引擎准确

  • 除了谷物质量外,还测量谷物的数量、每粒的长度、宽度和面积。

主要技术参数


  • 测量方法图像处理方法
    像素传感器CMOS图像传感器(500万像素)
    光源反射图像:RGB 3色LED
    透射图像:10.4英寸彩色LCD
    测量对象漆内糙米、漆内精米*1(不包括低直链淀粉米)
    *1 宇里糙米全谷物、漆内精米、漆内精米(大米精米JAS)可选。
    判决●全糙米*2
    等、白未熟谷*3、有色谷物*3、死米*3、胴体粒*3、碎粒*3、其他破损谷物、异物等
    ●全糙米粒*1*2
    全粒、白未成熟粒*3、有色粒*3、死米*3、胴体粒*3、碎粒*3、其他未成熟谷物、其他破碎谷物、异物等●
    全米抛光*1
    正常谷物、有色谷物、破碎谷物、粉粒、裂粒、小碎粒等、异质粒
    ●毛精米(大米抛光JAS)*1
    正常粒、有色粒、破碎粒、粉粒、粉粒、裂粒、小碎粒等,异质粒
    *1 全糙米粒、大米抛光和精米(大米抛光JAS)可选。
    *2 测量糯米和糯米粒时,判断内容和显示项目可能会因设置而异。
    *3 本商品已通过农产品检验确认。
    测量范围0~100%
    测量的颗粒数800-1200粒(如超出范围,显示为参考值)
    测量时间约 40 秒/1000 粒胶囊(取决于种子类型和品种)
    约 16 秒/1000 粒胶囊(使用数据记录器软件“RDL-01”时。 因谷物种类和品种而异)
    表示法OLED(128×64点)
    输入/输出内置打印机、USB2.0(1 通道设备)、SD 卡插槽
    工作温度和湿度范围温度:5-35°C,湿度:10-80%RH(无冷凝)
    储存温度和湿度范围温度:-20-70°C(机身、样品盘)、-20-40°C(打印纸)
    湿度:10-80%RH(非冷凝)
    权力100 至 240 V AC(带 AC 适配器)、5 至 24 V DC(带移动电池*)
    * 可使用
    输出容量为 50W 或更大的商用移动电池(插头:外形 5.5mm,内径 2.1mm,中心加一)
    尺寸和质量340 (W) × 360 (D) × 355 (H) mm / 7 kg(仅主机)
    附属品标本托盘、标准板托盘、托盘存储箱、标本采集管、清洁喷嘴、量匙、刷子、盖子、交流适配器、电源线、打印纸、RN-700 数据查看软件、简易测量/维护指南、使用说明书


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